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Ayala Cintas, Núria (Fecha de defensa: 2013-09-30)
Durant el treball de tesi s’ha permès ampliar una línia d’investigació al grup de recerca REDEC (Reliability of Electron Device and Circuits) del Departament d’Enginyeria Electrònica de la Universitat ...
Velayudhan, Vikas (Fecha de defensa: 2016-11-28)
El trabajo desarrollado en esta tesis se ha enfocado en el análisis y estudio del impacto que tienen en la variabilidad de MOSFETs ultraescalados el número y la distribución espacial de las trampas ...